-
- F20-UV/F20-NIR/F20-EXRFilmetrics F20 白光干涉測厚儀儀
Filmetrics F20 白光干涉膜厚測量儀是一款高精度、多功能的測量設備，能夠快速測定薄膜厚度、光學常數(shù)、反射率和透過率等特性。其非接觸式測量方式適合各種脆弱或敏感材料，具備納米級分辨率，測量范圍廣（1nm-3mm）。該儀器適用于多種應用場景，包括半導體、光學、生物醫(yī)學等領域。F20膜厚儀可在數(shù)秒內(nèi)提供準確的測量結果，支持單層及多層薄膜分析，為科研和工業(yè)生產(chǎn)提供可靠支持。
- 型號：F20-UV/F20-NIR/F20-EXR
- 更新日期：2025-04-25 ￥面議
-
- K系列博曼BOWMAN高精度鍍層測量儀
美國博曼K系列XRF高精度涂層測量系統(tǒng)，具備12英寸×12英寸的測量區(qū)域，適用于多種樣品檢測。
- 型號：K系列
- 更新日期：2024-11-13 ￥面議
-
- B系列博曼BOWMAN高性能XRF鍍層測厚儀
B系列是博曼的基礎機型和常規(guī)機型。該型號采用自上而下的測量方式。配備固定樣品臺可實現(xiàn)手動操作。測量時將樣品放入樣品倉，通過觀察視頻圖像來對準屏幕上十字線內(nèi)的位置來完成測量。
- 型號：B系列
- 更新日期：2024-11-13 ￥面議
-
- F54-XYT-300薄膜厚度測量儀
借助F54-XYT-300薄膜厚度測量儀的光譜反射系統(tǒng)，可以快速輕松地測量200 x 200mm樣品的薄膜厚度電動XY工作臺自動移動到選定的測量點并提供快速的厚度測量，達到每秒兩點。您可以從數(shù)十種預定義的極性，矩形或線性測量坐標圖案中選擇，也可以創(chuàng)建自己編輯的不受限制的測量點數(shù)量。此桌面系統(tǒng)只需幾分鐘即可完成設置，任何具有基本計算機技能的人都可以使用。
- 型號：F54-XYT-300
- 更新日期：2024-07-24 ￥面議
-
- F54-XY-200薄膜厚度測量儀
借助F54-XY-200薄膜厚度測量儀光譜反射系統(tǒng)，可以輕松地測量尺寸達200 x 200mm樣品的薄膜厚度電動XY工作臺自動移動到選定的測量點并提供厚度測量，達到每秒兩點。您可以從數(shù)十種預定義的極性，矩形或線性測量坐標圖案中選擇，也可以創(chuàng)建自己編輯的測量點數(shù)量。此桌面系統(tǒng)只需幾分鐘即可完成設置，任何具有基本計算機技能的人都可以使用。
- 型號：F54-XY-200
- 更新日期：2024-07-24 ￥面議
-
- Auto SEHORIBA 一鍵式全自動快速橢偏儀
HORIBA 一鍵式全自動快速橢偏儀是新型的全自動薄膜測量分析工具。采用工業(yè)化設計，操作簡單，可在幾秒鐘內(nèi)完成全自動測量和分析，并輸出分析報告。是用于快速薄膜測量和器件質量控制理想的解決方案。
- 型號：Auto SE
- 更新日期：2023-08-22 ￥面議
-
- Smart SEHORIBA 智能型多功能橢偏儀
HORIBA 智能型多功能橢偏儀，多功能性設計，配置靈活，具備多角度測量能力，可方便實現(xiàn)在線與離線配置切換。是一款針對單層和多層薄膜進行簡單，快速，表征和分析的工具。
- 型號：Smart SE
- 更新日期：2023-06-06 ￥面議
-
- UVISEL PlusHORIBA 研究級經(jīng)典型橢偏儀
HORIBA 研究級經(jīng)典型橢偏儀是一種無損無接觸的光學測量技術，基于測量線偏振光經(jīng)過薄膜樣品反射后偏振狀態(tài)發(fā)生的改變，通過模型擬合后得到薄膜、界面和表面粗糙層的厚度以及光學性質等等，可測厚度范圍為幾埃至幾十微米。此外，還可以測試材料的反射率及透過率。
- 型號：UVISEL Plus
- 更新日期：2023-06-06 ￥面議
24小時咨詢熱線
