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1.ZSI：剪切干涉測量技術提供z向高分辨率圖像。2.ZFT：使用集成寬帶反射計測量膜厚度和反射率。3.AOI：自動光學檢測，并對樣品上的缺陷進行量化。4.ZXI：白光干涉測量技術，適用于z向分辨率高的廣域測量。5.ZDot：同時采集高分辨率3D數(shù)據(jù)和TrueColor（真彩）無限遠焦點圖像。6.ZIC：干涉對比度，適用于亞納米級別粗糙度的表面并提供其3D定量數(shù)據(jù)。7.生產(chǎn)能力：通過測序和圖案識別實現(xiàn)全自動測量。8.光學輪廓儀可用于樣品復檢或缺陷檢測的高質(zhì)量顯微鏡。9.采用Z...

橢偏儀的成像技術為超小塊的電影分析和原位橢圓偏振儀測量，流體環(huán)境橢偏測量分析，可以實現(xiàn)結(jié)合各種技術，例如布儒斯特角鏡、表面等離子體共振、原子力顯微鏡和石英晶體微天平儀器、磅槽、反射光譜法和太赫茲光譜、拉曼光譜和更多的研究人員使用。這些新的功能，擴展產(chǎn)品的橢偏法的應用領域。橢偏光學顯微技術帶來新的研究也構(gòu)成的技術，例如在非測量液膜的穩(wěn)定性和顯微成像面上的挑戰(zhàn)等。橢偏儀應用廣泛在線監(jiān)測薄膜的厚度，對成品率無疑至關重要。然而保鮮膜在傳送帶上的速度堪比百米飛人博爾特，檢測時間又以秒計...

合作者:國家納米科學中心“振動對STM的影響一直是我們非常頭痛的問題，使用后我們的噪音水平較被動減震提高了兩倍?！?陳鵬程博士國家納米科學中心STM主動式防震臺對單分子電子學研究領域?qū)φ駝拥囊骃TM就是利用針尖與樣品間施加微小電壓時隧道電流隨他們的間距變化十分靈敏，這一效應，用針尖在表面掃描，測量表面原子排列造成的微小起伏引起的隧道電流的變化，既可獲得原子級分辨率的表面結(jié)構(gòu)信息。STM探針與樣品距離只有約1nm，間距變化10-2nm則隧道電流變化約為一個數(shù)量級，極微小的振動...

臺階儀屬于接觸式表面形貌測量儀器，而且它也被人們叫做臺階測量儀等等。它的結(jié)構(gòu)十分的，因為在它的內(nèi)部有一個功效十分強大的傳感器。與此同時，臺階儀所具有的她點也比較多，主要有十分高的測量精度、測量結(jié)果也是尤其的穩(wěn)定、測量里程較大以及至關重要的可重復性等等。但是，臺階儀的性能也會隨著測頭與測頭之間的摩擦而減弱，進而降低測量精度。那么，臺階儀的種類有哪些?接下來小編為大家娓娓道來。臺階儀也被人們叫做臺階測量儀，由于其內(nèi)部存在一個樣式不一的傳感器，因此人們對臺階儀進行分類時，也習慣利用...

背景：使用單位：哈爾濱工業(yè)大學+材料科學研究位于前0.1%行列該研究室主要針對水處理，及水薄膜領域的研究儀器：ZEISSSigma-500+應用于高品質(zhì)成像與分析的場發(fā)射掃描電子顯微鏡隔振方案供應商：優(yōu)尼康科技有限公司+環(huán)境方案提供商+研究單位服務商+TableStable主動隔振系統(tǒng)供應商描述：+實驗室的外部環(huán)境較為復雜。同樓層多個研究室并排分布，人員物品來往密集。外部10米范圍內(nèi)的泵房以及電梯井到SEM鏡筒小于5米，由于電梯井的水平面低于實驗室的地面，且是槽式框架結(jié)構(gòu)，當...

光學膜厚測量儀的特點是非接觸,非破壞方式測量，無需樣品的前處理，軟件支持Windows操作系統(tǒng)等。光學薄膜測厚儀是使用可視光測量晶圓、玻璃等基材上形成的氧化膜，氮化膜，光致抗蝕劑等非金屬薄膜厚度的儀器。光學膜厚測量儀測量原理如下：在測量的wafer或glass上面的薄膜上垂直照射可視光，這時光的一部分在膜的表面反射，另一部分透進薄膜，然后在膜與底層(晶圓或玻璃)之間的界面反射。這時薄膜表面反射的光和薄膜底部反射的光產(chǎn)生干涉現(xiàn)象。光學薄膜測厚儀就是利用這種干涉現(xiàn)象來測量薄膜厚度...